GOOD DESIGN AWARD

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CC

2013

GOOD DESIGN|グッドデザイン賞

受賞対象名
テスティングソリューション提供サービス [CloudTesting(TM) Service]
事業主体名
Cloud Testing Service株式会社
分類
開発・生産・製造のためのサービス・システム
受賞企業
Cloud Testing Service株式会社 (東京都)
株式会社アドバンテスト (東京都)
受賞番号
13G131067
受賞概要
2013年度グッドデザイン賞受賞概要

受賞対象の概要※掲載している情報は、受賞当時の情報のため、現在は異なる場合があります。

概要

テスティングの新しいカタチ『CloudTesting™ Service』〜「テスター/計測器を買う」から「テスティングIPを利用する」へ〜●業界初となるオンデマンド型のテスティング・サービス●クラウド上から計測機能やアプリケーションを自由に選択●測定から解析まで、目的にあったアプリケーションを自由に追加●GUIによる直感的な操作が可能なソフトウエア環境●持ち運び可能な小型デスクトップ端末(貸与)●好きなときに好きなだけ使えるパーソナルユース環境●様々な機能を柔軟に連動できる複合計測器として●少ない初期投資(アクセサリなど)でご利用期間に応じたお支払い

プロデューサー

Cloud Testing Service株式会社 代表取締役社長 木村学

ディレクター

Cloud Testing Service株式会社 代表取締役社長 木村学

デザイナー

Cloud Testing Service株式会社 Firmware R&D Department Manager 葭葉一道

詳細情報

http://www.cts-advantest.com

利用開始
2012年10月
販売地域

国内・海外共通仕様

受賞対象の詳細

デザインについて

「身体・人間」の視点からみて、応募対象が提供できること

・小さく持ち運びが可能な卓上型テスティング端末“CloudTesting™ Station”。 (半導体テスタは床設置が主流で移動ができない。) ・GUIによる直感的な操作が可能なソフトウエア。 (機種に依存する特殊な言語を必要としない。)

「生活」の視点からみて、応募対象が提供できること

・家庭用電源(100V)で動作可能。(大型産業機器の多くは200V。) ・ネットショッピング感覚で計測機能を容易にチョイスできるECサイト。

「産業」の視点からみて、応募対象が提供できること

・半導体評価の初期投資額1/100、環境作りの時間1/40。・必要なときに必要なものだけの利用料金(月額制)。・個別計測器では困難なシステム機能評価を卓上小型端末1台で。・好きなときに好きなだけ使えるパーソナルユース環境で作業効率向上。・固定資産の減価償却を気にせず、常に最新の計測機能が使用可能。

「社会・環境」の視点からみて、応募対象が提供できること

・省電力/省スペースで地球にやさしく。・教育機関に於いては、低予算で最先端の技術を整備できる上、机上ではない実践的な授業が可能に。・青少年の育成を支援することで半導体産業の発展に寄与。

ユーザー・社会に伝えたいこと

半導体産業の発展を加速させるためには、設計・開発から製品リリースまでの期間をいかに短縮するかが最大のポイントになります。また、量産部門(製造・検査)がコスト面から海外へシフトする昨今、残った設計・開発部門で日本が勝ち残るには、今の設計・開発者が抱える問題を解決することが先決です。私たちのサービスがそういう方々や、ひいては将来を担う人材の育成に貢献できれば。それが私たちの原動力でもあり願いです。

どこで購入できるか、
どこで見られるか

ウェブより申し込みで小型テスティング端末貸与(審査あり)。ショールーム7月OPEN(横浜)
公式ウェブサイト
公式ウェブショップ
facebook

審査委員の評価

一般に高精度の計測機器は非常に高価なことが多く、今日のイノベーションを実践する個人や、シェアビジネスを行う少人数チームでは、なかなか使用することが難しい。そうした状況の中、この会社は汎用のテスティング用ハードウェアを貸与し、ソフトウェアで機能をカスタマイズするオンデマンド型のサービスを提供する。クラウド時代の専門技術者にとって、まさに的を得たサービスである。ソフトウェアのインターフェイスも良くできており、ここから新たなビジネスチャンスが生れるだろう。

担当審査委員| 永井 一史   久保田 晃弘   紺野 登   田川 欣哉  

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